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ZetaView所具備的單一顆粒跟蹤技術(shù)，結(jié)合經(jīng)典微電泳技術(shù)和布朗運(yùn)動(dòng)成為現(xiàn)代的分析手段。自動(dòng)校準(zhǔn)和自動(dòng)聚焦功能，讓用戶眼見為實(shí)，更加直觀人性化。通過(guò)子體積的掃描，來(lái)自于數(shù)以千計(jì)的顆粒的Zeta電位和粒徑柱狀圖的結(jié)果就可以計(jì)算出來(lái)。此外，顆粒濃度也可以通過(guò)視頻計(jì)數(shù)分析得到。因此，該儀器一臺(tái)主機(jī)具備顆粒Zeta電位，濃度，粒度、電導(dǎo)率分析、溫度等功能。

測(cè)量原理	Zeta電位（微點(diǎn)泳），粒徑（布朗運(yùn)動(dòng)），顆粒濃度（視頻評(píng)價(jià)）
光學(xué)設(shè)計(jì)	具有單個(gè)粒子跟蹤功能的激光散射視頻顯微鏡，自動(dòng)準(zhǔn)直和自動(dòng)聚焦
測(cè)量池	石英玻璃測(cè)量池
相機(jī)	超高靈敏度的CMOS相機(jī)
相機(jī)速度	3.5~60幀/秒可調(diào)
Zeta電位測(cè)量范圍	-500~+500mv
Zeta電位適合的粒徑范圍	0.02-50μm
粒徑測(cè)量范圍	0.01-2μm，測(cè)量下限和上限依賴于樣品和激光選擇
可選激光波長(zhǎng)	375nm，405nm，488nm，515nm，520nm，660nm
可選雙激光波長(zhǎng)	405nm和488nm，405nm和520nm，405nm和640nm，488nm和640nm，520nm和660nm
樣品濃度范圍	105-109粒子/ml（粒度），106-1010粒子/ml（Zeta電位）
溫度控制	RT-5℃~55℃
導(dǎo)電率范圍	3μs/cm-15ms/cm
電源	90-240V，47-63Hz，50VA
激光安全	儀器安全保護(hù)Class I:激光內(nèi)部防護(hù)Class 3B
尺寸	20x25x30cm（WxHxD）
重量	主機(jī)8.5kg
軟件	系統(tǒng)控制，自動(dòng)校準(zhǔn)，跟蹤單個(gè)粒子，Zeta電位分布，粒徑分布，顆粒計(jì)數(shù)，散點(diǎn)圖描述和平均計(jì)算功能，導(dǎo)出報(bào)告功能
理論	根據(jù)Smoluchewski方程，將電泳遷移率轉(zhuǎn)換為Zeta電位 根據(jù)Stokes Einstein方程，計(jì)算粒徑分布
數(shù)據(jù)管理	視頻、文本、PDF、單一或疊加輸出
符合標(biāo)準(zhǔn)	ASTM E2834-12（粒徑）和ISO 13099-1,2,3（Zeta電位）

ZetaView的特點(diǎn)-全自動(dòng)和無(wú)源穩(wěn)定性

自動(dòng)校準(zhǔn)程序會(huì)持續(xù)工作，即便是樣品池被取出后。防震動(dòng)設(shè)計(jì)提高了視頻圖像的穩(wěn)定性。通過(guò)掃描多個(gè)子體積并進(jìn)行平均，就可以得到可靠的統(tǒng)計(jì)結(jié)果。有3種測(cè)量模式可供選擇：粒徑，Zeta電位和濃度。樣品池通道集成在一個(gè)測(cè)試模塊中，盒子可提供溫度控制以及同管理單元的耦合。

提供不同波長(zhǎng)的單激光、雙激光(TWIN)和四激光(QUATT)可選

自動(dòng)掃描，最多可達(dá)100個(gè)子體積；

自動(dòng)聚焦；

小巧，便于攜帶；

防震動(dòng)；

光源從紫外線到紅光；

理論

平移擴(kuò)散常數(shù)可通過(guò)直接觀測(cè)待測(cè)顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)計(jì)算得到。通過(guò)測(cè)試電泳遷移率，可以得到zeta電位。

納米粒子跟蹤分析（NTA）和動(dòng)態(tài)光散射（DLS）

所有的光散射儀器，包括粒子跟蹤技術(shù)，都存在一個(gè)問(wèn)題：當(dāng)顆粒大小低于100nm時(shí)，靈敏度會(huì)迅速的降低。動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)的最低檢測(cè)限是0.5nm，對(duì)于納米顆粒跟蹤分析，其最低檢測(cè)限是10nm。通常，DLS和NTA的主要區(qū)別就在于濃度范圍。對(duì)于DLS，當(dāng)樣品濃度太低時(shí)，ZETAVIEW可以非常圓滿的完成檢測(cè)任務(wù)。相反，對(duì)于高濃度的樣品，DLS方法會(huì)非常的適合。

測(cè)量范圍

測(cè)量范圍依賴于樣品和儀器。對(duì)于金樣品，顆粒跟蹤技術(shù)的檢測(cè)下限為10nm；相應(yīng)的，如果樣品的散射能力較弱，則檢測(cè)下限會(huì)變得更大。假如樣品穩(wěn)定，不會(huì)沉淀或漂浮，Zeta電位測(cè)量的粒徑上限為50微米，對(duì)于粒徑測(cè)量為3微米。

源于視頻分析的顆粒計(jì)數(shù)

顆粒濃度可通過(guò)視頻分析得到，并歸一化處理，散射體積對(duì)粒徑?？蓹z測(cè)的最小濃度為105粒子/cm3，最大為1010粒子/cm3。對(duì)于200nm的顆粒，最大體積濃度為1000ppm。

方法

ZetaView激光散射顯微鏡對(duì)于低于1微米衍射極限100倍的納米粒子是非常敏感的。

Determining the absolute concentration is one of the strengths of the NTA technique. In scatter mode, the concentration of all particles is measured. Changing subsequently to the fluorescence mode, marked biologic nanoparticles are tracked. By using four lasers within a SOP assisted sequence, it is possible to differentiate between four different fluorescence dyes in the same sample.

Phenotyping of tetraspanins for instance, on vesicles and virus is facilitated, positive and isotype control as well.

To prepare instrument settings, standard EVs may be used.